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掃描哈特曼像質檢測性能分析 [Early Posting]

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摘要

掃描哈特曼技術是檢測大口徑望遠鏡像質的常用方法,但其對不同階次像差的檢測能力以及不同子孔徑分布下的檢測精度尚不明確。利用基于Zemax和Matlab的仿真模型對該技術的檢測性能進行了探究。仿真結果表明,掃描哈特曼法能有效檢測到最高第28階像差, RMS的相對誤差在5%以內,對多階混合像差檢測時難以有效分辨其中的高階成分;采用相切子孔徑分布能較好地平衡檢測精度和檢測效率;增加子孔徑數目能提升檢測精度,但增加到一定數目后精度提升十分緩慢,同時檢測時間大幅增加。對該技術的工程應用具有一定的指導意義。

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補充資料

DOI:10.3788/aos202040.0712002

作者單位:

    中國科學院光電技術研究所
    成都市 雙流350信箱 中科院光電所一室
    成都市 雙流程350信箱 中科院光電所一室
    中國科學院光電技術研究所

引用該論文

戴勛義,譚毅,任戈,謝宗良. 掃描哈特曼像質檢測性能分析[J].光學學報,2020,40(07):0712002.

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